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产品介绍
模块老化系统是一种可编程半导体可靠性老化设备，能够在恒流 / 脉冲老化条件下实时采集功率、电流、电压、温度等数据，从而优化产品性能并确保半导体芯片的长期可靠性。该系统允许在 25℃-70℃（可调 / 常温）或 70℃-110℃（选装）的温度环境中工作，输出电压精度 ±0.3%、电流精度 ±0.3%，标准配置支持 96 个老化位置。工艺老化由多托盘分层结构实现，内置异常数据监控与故障预警功能，适用于实验室研发及批量生产场景。
核心工艺
- 恒流 / 脉冲老化测试
- 半导体模块加速老化
- 多参数同步老化监控
- 电应力可靠性验证
- 高低温老化筛选工艺
技术参数
| 参数 | 规格 |
|---|---|
| 输入电压 | 380V |
| 输出电压 | 60V |
| 电压精度 | ±0.3% |
| 输出电流 | 50A |
| 电流精度 | ±0.3% |
| 输出方式 | 恒流 / 脉冲老化 |
| 输出范围 | 0-60A、0-60V（可定制） |
| 老化数量 | 标准 96 个位置，可定制（8 托盘，每托盘 12 位置） |
| 温度控制 | 25℃-70℃ 老化（可调 / 常温）；70℃-110℃ 老化（选装） |
* 以上参数为标准配置，支持按工艺需求定制，详情请联系我们。
应用领域
- 半导体芯片可靠性验证
- 模块级加速老化测试
- 实验室研发与性能优化
- 批量生产可靠性筛选
- 功率器件 / 光电器件寿命评估
- 工业级半导体产品质量管控
