产品介绍
该激光测试系统是一种可编程半导体激光叠阵综合表征设备，能够对半导体激光叠阵进行全面性能测试，从而实现器件光学与电学性能的精准评估。该系统可完成 PIV 特性曲线绘制、光谱分析、近场成像及远场发散角测量，功率测量范围脉冲 0~5000W、平均 0~1000W，光谱分析波长覆盖 200~1100nm，支持自动化批量加载测试。工艺测试由高精度测量仪器保障，配套直观图形化软件，可自定义测试参数并自动生成完整测试报告。
核心工艺
- 半导体激光叠阵综合性能表征工艺：通过电学测试、光谱分析、近场光束成像、远场发散角测量，完成功率 / 电流 / 电压特性、光学波长、光束质量等全维度检测，实现激光器件性能与缺陷的自动化批量筛查。
技术参数
| 参数 | 规格 |
|---|---|
| 功率测量 | 脉冲：0-5000W，平均：0-1000W |
| 光谱分析 | 波长：200-1100nm，分辨率：0.3nm |
| 发散角 | 水平：±50°，垂直：±65°，精度：±0.1° |
| 近场成像 | 识别缺陷发射点 |
| 自动数据采集 | 生成测试报告，包含 PIV、光谱、发散角、功率与温度数据 |
* 以上参数为标准配置，支持按工艺需求定制，详情请联系我们。
应用领域
- 半导体激光叠阵性能表征
- 激光器光束质量检测
- 激光器件电学-光学特性测试
- 近场缺陷发射点识别
- 工业激光器批量质检与研发验证
