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产品介绍
COS（芯片基板）老化系统是一种可编程半导体可靠性测试设备，能够在恒流与脉冲老化条件下验证半导体芯片的长期可靠性，从而优化产品性能。该系统允许在 25-70℃ 可调温度环境中工作，支持 70-110℃ 高温老化，功率输出范围 0-60A、0-60V（可定制），标准配置支持 200 个 COS 老化位置。工艺老化由多托盘分层结构实现，可实时采集老化数据，内置异常断电保护机制，适用于实验室研发及批量生产场景。
核心工艺
- 恒流 / 脉冲老化测试
- 半导体芯片可靠性验证
- 温度应力老化工艺
- 芯片基板加速寿命测试
- 电应力老化筛选工艺
技术参数
| 参数 | 规格 |
|---|---|
| 老化功能 | 恒流与脉冲老化 |
| 功率输出 | 0-60A、0-60V（可定制） |
| 容量 | 标准 200 COS 位置，可定制 |
| 托盘配置 | 8-10 托盘，每托盘 10-20 位置 |
| 温度控制 | 25-70℃ 可调，支持 70-110℃ 老化 |
* 以上参数为标准配置，支持按工艺需求定制，详情请联系我们。
应用领域
- 半导体芯片可靠性验证
- 芯片基板老化测试
- 实验室研发测试
- 批量生产筛选
- 激光器件芯片性能优化
